離子探針的展望
離子探針作為一個具有分析微量元素的高靈敏度的微區分析方法正在迅速發展。但是,由于二次離子濺射機理較為復雜,定量分析仍存在許多問題。今后發展和改進的主要方向是: 1、提高質譜分辨率,以減少和排除二次離子質譜干擾; 2、實現多種質譜粒子探測,以獲得樣品和多種粒子的信息和資料; 3、定量分析和離子濺射機理 的研究; 4、新型液態金屬離子源的應用; 5、離子探針與多種儀器(如X射線光電子能譜、紫外光電子能譜、俄歇電子能譜)聯用等。